/
21 апреля 2025
2902

Использование многофакторного анализа для идентификации сложных отложений и дефектов на бумагоделательной машине

Использование многофакторного анализа для идентификации сложных отложений и дефектов на бумагоделательной машине

Полный текст статьи в журнале Про ЦБП


"...Независимо от уровня подготовки аналитика, связь между интерпретацией спектра и источником загрязнения может быть затруднена по нескольким причинам. Во-первых, из-за сложности ИК-спектров: отложения и дефекты часто представляют собой смеси различных компонентов, включая волокно, неорганические наполнители, технологические добавки и загрязняющие вещества. В результате на спектре появляются пики, которые могут соответствовать сразу нескольким материалам. Например, как стериловые/тритерпеновыеэфиры древесной смолы, так и акрилатные клеи из переработанного волокна могут формировать пик в области 1737–1732 см⁻¹, характерный для эфирных функциональных групп. Также могут перекрываться пики, соответствующие различным функциональным группам — например, карбоновой кислоте древесной смолы и кетонной группе гидролизованного алкилкетенового димера (АКД), проявляющиеся в диапазоне 1715–1705 см⁻¹..."



Другие новости